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鹽霧試驗(yàn)箱為人工氣候環(huán)境“三防“(濕熱、鹽霧、霉菌)試驗(yàn)設(shè)備之一，是研究機(jī)械、國防、輕工、電子、輕工電子儀表等行業(yè)各種環(huán)境適應(yīng)性和可靠性的一種重要試驗(yàn)設(shè)備。該鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱可按GB/T2423.17《電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽...
鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱為人工氣候環(huán)境“三防”試驗(yàn)設(shè)備之一，是標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室*的產(chǎn)品，并成為了研發(fā)人員的“盟友”。但安裝鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱并不是一勞永逸，明星們的“不老傳說”，鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱也需擁有，定期對鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱進(jìn)行清洗，才能讓鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱“青春永駐”。鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱清洗應(yīng)該包括三個(gè)部分：**、箱體外殼和裸露部分；第二、內(nèi)箱、鹽水箱、飽和桶、水密封是*重要部位；第三、電器元器件，比較少見，與維修結(jié)合在一塊，相當(dāng)于小系統(tǒng)的清洗，屬于比較大“手術(shù)”。關(guān)于鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱箱體外殼和相應(yīng)部件...
高低溫試驗(yàn)箱關(guān)鍵由試驗(yàn)工作室、電器柜構(gòu)成。本篇文章敘述了高低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)室、電器柜的平時(shí)維護(hù)保養(yǎng)方式，平時(shí)維護(hù)保養(yǎng)能夠合理的提升實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性和機(jī)器設(shè)備的使用期。一、高低溫試驗(yàn)箱的試驗(yàn)工作室清理：實(shí)驗(yàn)居民區(qū)的污漬和外地人臟東西可以危害實(shí)驗(yàn)的結(jié)果，因而在實(shí)驗(yàn)前試點(diǎn)區(qū)開展清理時(shí)有需要的。試點(diǎn)區(qū)清理流程：a、開啟的室門。b、用薄布清理內(nèi)箱壁、掛條等位置。c、關(guān)掉的室門。二、高低溫試驗(yàn)箱配電箱的清理浮塵堆積在配電箱會(huì)造成多余的常見故障。因而，須對配電箱每季度清理。配電箱的清理流程：a、...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。經(jīng)過多年研究，我們現(xiàn)在對濕度的表示方法有相對濕度、濕度、露點(diǎn)等等。以下是相對濕度、濕度、露點(diǎn)詳細(xì)說明：一、相對濕度在計(jì)量法中規(guī)定，濕度定義為“物象狀態(tài)的量”。日...
在進(jìn)行對產(chǎn)品性能檢測試驗(yàn)過程中，恒溫恒濕試驗(yàn)箱可能需要進(jìn)行一項(xiàng)*的操作那就是除霜步驟。除霜的功能是什么，恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)備又該如何進(jìn)行除霜？為什么在進(jìn)行試驗(yàn)操作過程中進(jìn)行除霜呢？恒溫恒濕試驗(yàn)箱進(jìn)行除霜主要就是空氣中的水制冷后順便冷卻變化成晶，成為一種小冰晶。而恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行除霜的霜主要是在預(yù)冷區(qū)內(nèi)的儲(chǔ)能組件上面的。恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)主要是通過是三個(gè)相輔相成的箱體內(nèi)氣流的相互轉(zhuǎn)換進(jìn)行交換熱量。而且這三個(gè)箱體內(nèi)的空氣是與箱體外的空氣隔絕的，是封閉的。由于這三個(gè)箱體是封閉的，那么箱...
鹽霧試驗(yàn)箱適用于各種材質(zhì)之表面處理，包含涂料、電鍍、有機(jī)及無機(jī)皮膜、陽極處理、防銹油等腐蝕處理后測試其產(chǎn)品之耐腐蝕性。根據(jù)客戶提供的試驗(yàn)操作情況，工程師研究發(fā)現(xiàn)鹽霧箱產(chǎn)生數(shù)據(jù)誤差的五大原因，下面小編為大家簡單的概括一下。儀器本身誤差：由于設(shè)計(jì)、制造、檢定等的不完善，以及鹽霧試驗(yàn)箱使用過程中的元器件老化、機(jī)械部件磨損、疲勞等因素而導(dǎo)致的誤差。同時(shí)，各種輔助設(shè)備或附件都有可能引起誤差的發(fā)生。環(huán)境誤差：由于實(shí)際環(huán)境條件與規(guī)定條件不一致所引起的誤差，任何測試總是在一定的環(huán)境中進(jìn)行的。...
